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전자 현미경 [COXEM EM-30]

전자 현미경 [COXEM EM-30]

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상품명 전자 현미경 [COXEM EM-30]
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전자 현미경
COXEM EM-30


◈ 개  요

Benchtop SEM


EM-30은 가장 기본적인 SEM 시스템으로써 SE 검출기를 기본으로 내장하여 제공합니다. 

BSE 검출기 및 EDS는 옵션으로 추가 가능합니다. 

100K의 배율과 15nm의 분해능을 제공하는 스탠다드 한 Benchtop SEM으로 

기본에 충실하며 가성비 또한 높은 제품입니다. 






◈ 특  징





◈ 스  펙


EM-30

EM-30AX

Magnification

20-100,000X

Spatial Resoultion

<15nm

Acclertion Voltge

1 - 30kV (adjustable in 1kV scale)

Electron Source

Pe-Centered Tungsten Filament

Detector

SED(DP)

SED(DP),EDS

Sample Size

70mm (W) x 45mm (H)

X-Y/T Traverse

35x35mm / 0 - 45˚

Featuress

Measurement Tool

Remote Control

Automation

Focus, Filament, Brightness/Contrast

Data Output Format

jpg, tiff, BMP

Dimensions

400 x 600 x 550mm

Weight

85 kgs

95 kgs

Options

BSED

CoolStage

30mm Active Size Compact Type EDS

(Particle analysis)

30mm Active Size Co mpact Type EDS

(MPO included)



 
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